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日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K100 系列具有更長的行程和更高的負載，使其*適合于安裝板檢查。 間距從 1mm 到 2.54mm 不等，對于每個間距，您不僅可以選擇柱塞*端形狀，還可以選擇負載。您可以選擇*適合您需求的型號。 專為半導體測試中大電流、高機械應力場景優(yōu)化，適用于嚴苛環(huán)境下的PCB功能測試、功率模塊驗證及老化測試。

日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K075 與標準型相比，該彈簧探針系列具有更長的行程和更高的負載 使其*適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2.54mm 不等，對于每個間距 您不僅可以選擇柱塞*端形狀，還可以選擇負載。您可以選擇*適合您需求的型號。

日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 KITA K050 是介于微型化與高負載之間的 平衡型彈簧探針 以 0.50mm針徑 和 500-800gf接觸壓力 為核心特點，適用于需要 中等密度排布 且 兼顧電流承載能力 的半導體測試場景。

日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型K039與標準型相比，該彈簧探針系列具有更長的行程和更高的負載. 使其適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2.54mm 不等，對于每個間距，您不僅可以選擇柱塞*形狀，還可以選擇負載。 KITA K039 是一款微型高負荷彈簧探針，專為半導體PCB測試中的 高密度、高精度接觸需求 設計.

日本KITA 半導體PCB 檢查的彈簧探針標準型K-026-2CAK2系列是KITA公司針對PCB（印刷電路板）測試（如ICT、FCT）設計的標準彈簧探針（Test Probe）. 以高耐久性、穩(wěn)定接觸電阻和緊湊結構為特點，廣泛應用于電子制造領域的測試環(huán)節(jié)。